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Dell戴尔vostro3560XP声卡驱动，可以百度Conexant_audio_8.54.1.51-allos直接下载驱动完整版。

Dell戴尔vostro3560XP指纹软件，配合指纹软件使用。

我自行备份在驱动精灵下备份的Dell 戴尔 3560 XP 驱动，艰难凑齐。做到除了显卡的叹号以外没有其他问号、叹号，即驱动可用。 无法解决问题：HM77芯片组无USB3.0驱动，只能当USB2.0使用，3560bios不支持屏蔽Intel核显，显卡在XP条件下只能使用集显，估计无解。 待解决问题：蓝牙、指纹有驱动但找不到能使用的软件，发挥不了作用，请后来的兄弟想办法解决。 各分项的驱动，鉴于大小，我将在csdn单独上传。

工厂检测内存条质量的软件Ram Stress Test，只要有一丁点问题，都能检查出来，推荐大家使用，各位一定 都碰到过，提示内存不能为 READ，或者WRITTEN的情况，很多时候都是软件问题，要解决他首先检查内存条的质量，然后再从软件去找问 题。这个软件是最专业的，比那个 MEMREST还好，只需要检查一边，好就是好，坏的就是坏的。这个软件确实很好，内存坏的话会显示红色，并 且报警。但是只能检测一代内存， 二代内存就需要微软的检测工具了。 Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式，是专门给系统生产厂商出机前用的测试 程式，他其实是从其他的产品独 立出来的一项测试，该公司专作系统测试的软硬体，方便生产厂商将产品做详细测试，至于R.S.T.在目前记忆 体生产业使用非常普遍，因为经 过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题，所以是非常好用的一个测试工具！！ 　　使用非常简易，只要设定为软碟开机就行了，他是一个独立开发的系统，没有依附任何作业系统，相容于 x86系列，只要BIOS认的到的容量 他都能测！！ 　发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时，上 述选项才能通过。 　　附件IMZ需要用winImage展开到软盘上，然后用此软盘启动系统。 　　附件NRG是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件。 　　程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（<640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测 试你CPU的L2 cache。 ☆　可以测试SD及DDR内存。 ☆　闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 依次代表内存条的8颗颗粒。 从左到右横着数：0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗 粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表 第7颗粒、8-F代表第8颗粒 ☆　点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带 动它（可解决部分点不亮问题） 。必须SD的带SD的，DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根。 ☆　发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时， 上述选项才能通过。 ☆　程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（<640K），第二项是扩展内存地址，第三项是测 试CPU的 L2 cache。

此工厂内部专业内存维修软件可以修内存引起的蓝屏，非法操作，死机，不兼容等故障，可以很正确的查出内 存芯片损坏的位置，查出后只要换掉此坏芯片就可以修复。如果是点不亮的内存，在主板上插一根好的内存， 再插一根坏的，这样如果能带动的话也能用这个软件来检测，使用方式现在配合说明很简单，能正确的定位芯 片位置 01234567 89ABCDEF 01234567 89ABCDEF 01234567 89ABCDEF 01234567 89ABCDEF如上所示：闪动的一排测试 数字代表内存8颗粒的测试情况。 从左至右，0-7代表第一区域，8-F代表第二区域;0-7代表第三区域,8-F代表第四区域;……依次代表内存条的8 颗颗粒。 ⒈DDR内存8位与16位的单面测法: ⑴. 0-7(1 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏 ⑵. 8-F(2 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏 ⑶. 0-7(3 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏 ⑷. 8-F(4 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏 ⑸. 0-7(5 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏 ⑹. 8-F(6 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏 ⑺. 0-7(7 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏 ⑻. 8-F(8 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏 注意:DDR内存的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8 ⒉如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图: 1-16M ----------------------------------------------------------------------------------------- ------------ 16-32M----------------------------------------------------------------------------------------- ------------ 32-48M ---------------------------------------------------------------------------------------- ----------- 48-64M----------------------------------------------------------------------------------------- ----------- 从1M到64M的4根虚线上出现乱码,说明这根内存的第一面颗粒有问题(判断哪个颗粒照上说明) 64-80M ---------------------------------------------------------------------------------------- ------------ 80-96M ---------------------------------------------------------------------------------------- ---------- 96-112M---------------------------------------------------------------------------------------- ------------ 112-128M--------------------------------------------------------------------------------------- ------------ 从64M到128M的4根虚线上出现乱码,说明这根内存的的第二面颗粒有问题(判断好坏照上说明) 注意:在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面，93与184的代表第二面。 1---128M的8根虚线 是用来区分两面区域的作用。 ⒊SD的8位与16位的单面测法: ⑴. 0-7(1)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第8颗粒已经损坏 ⑵. 8-F(2)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第4颗粒已经损坏 ⑶. 0-7(3)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第7颗粒已经损坏 ⑷. 8-F(4)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第3颗粒已经损坏 ⑸. 0-7(5)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第6颗粒已经损坏 ⑹. 8-F(6)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第2颗粒已经损坏 ⑺. 0-7(7)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第5颗粒已经损坏 ⑻. 8-F(8)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第1颗粒已经损坏 注： PCB板上从1到84为第一面，颗粒的排列顺序从1到84为8-7-6-5-4-3-2-1 切记注意） 4.通过以上说明：SD的双面是跟DDR的是一样的。但是颗粒的好坏判断要按照排列循序来判断。 5.PCB板的短路或者虚焊的测法：如果在8根虚线上都出现乱码，说明这根内存的PCB板有问题 6.点不亮的内存测试方法：很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带动它 。必须SD带SD，DDR带DDR。软件会自动跳过好的那根去检测坏的那根。

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供SL500清灰参考，清灰后风扇声音小多了。