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基于ATE的SoC射频测试技术
ATE(Automatic Test Equipment:自动测试设备)测试,即采用相关的ATE设备,开发相对应的测试程序进行测试,此测试程序往往仅包含必要的系统级的测试项目,它主要用于芯片的量产测试。SoC芯片射频部分的测试由于牵扯到射频信号的完整性和电磁兼容以及基带算法复杂多样等问题,往往成为SoC芯片测试的难点。
2015-12-01
基于FPGA的DDC设计
现阶段,由于受各种关键器件,特别是受模数变换器(ADC)采样速率、工作
带宽和通用数字信号处理器(DSP)处理速度的限制,数字中频软件无线电正成为
理想软件无线电的一种经济、适用的折中选择。在目前大多数软件无线电接收机
中,一般先经模拟下变频至适当中频,然后在中频用ADC数字化后输出高速数字
中频信号,再经数字下变频器(Digital Down Converter--DDC)变频、抽取和低通
滤波之后变为低速的基带信号,最后将基带信号送给通用DSP器件作后续的解调、
解码、抗干扰、抗衰落、自适应均衡等处理.
2015-12-01
空空如也
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